金融界2024年9月26日音讯，国家知识产权局信息数据显现，深圳市紫光同创电子有限公司请求一项名为“IO二级热插拔标准测验办法及体系”的专利，公开号 CN 118688610 A，请求日期为2024年7月。
专利摘要显现，本发明提出一种IO二级热插拔标准测验办法及体系，该办法有：待测器材、辅佐器材和比较器，待测器材的IO经过总线与辅佐器材的榜首IO衔接，待测器材的IO经过上拉电阻与榜首电源衔接，待测器材的IO与比较器的榜首输入端衔接，比较器的第二输入端与阈值电压衔接，比较器的输出端与辅佐器材的第二IO衔接，其间：依据测验类型，确认待测器材和辅佐器材的电源状况；操控榜首IO输出高电平；读取第二IO的电平；依据第二IO的电平，调整上拉电阻的阻值，重复上述过程，直到调整后的第二IO的电平产生改变，得到上拉电阻临界值。本发明最大的意图在于供给一种IO二级热插拔标准测验办法，以习惯现有集成电路芯片的IO热插拔测验。
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